Gitter-stabilisierte Diodenlaser sind wichtige Werkzeuge für Präzisionsmessungen in Industrie und Forschung. Die Anwendungen sind z.B. Interferometrie mit Auflösungen vom Mikrometerbereich bis in den sub-Nanometerbereich, Spektroskopie zur Gasanalyse oder für optische Atomuhren oder Kontrolle und Nachweis von Quantengattern für Quantencomputer.
Der erste Teil des Vortrags behandelt die zeitaufgelöste Simulation der Dynamik von Gitter-stabilsierten Diodenlasern. Besonderes Augenmerk gilt dabei dem Übergang von stabilen, schmalbandigen Arbeitspunkten in chaotische, mehr-frequente Zustände, den sogenannten Modensprüngen.
Langfristiges Ziel dieses Ansatzes ist ein besseres Verständnis für die Dynamik und einer Vorhersage dieser Modensprünge.
Die Charakterisierung des Frequenz- und Phasenrauschens ist der Inhalt des zweiten Teil des Vortrags. Die Frequenz des Licht liegt bei einigen hundert Terahertz und kann deshalb nicht direkt gemessen werden. Der klassische Ansatz zur Charakterisierung des Frequenzrauschens ist der Vergleich zweier Laser mittels einer Schwebungsmessung. Diese Methode liefert aber nur Information über die Summe des Rauschens beider Laser.
Die Messung an einem Faserinterferometer hingen erlaubt die direkte Charakterisierung eines Lasers mit einer Empfindlichkeit von einigen zehn Hz/Hz2.